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熱常數(shù)分析儀的優(yōu)缺點(diǎn)

更新時(shí)間:2022-12-12      點(diǎn)擊次數(shù):1487
  用于各向異性材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試,在研究材料時(shí)能夠同時(shí)測(cè)量熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率以及單位體積的熱容。這種方法采用一個(gè)瞬間熱平面探頭,在大多數(shù)應(yīng)用中被稱之為HotDisk熱常數(shù)分析儀
  優(yōu)點(diǎn):
  (1)Hotdisk熱常數(shù)分析儀運(yùn)用瞬變平面熱源技術(shù),不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響;
  (2)測(cè)試方便快捷,直接接收探頭傳到樣品的熱量,樣品不需要形成溫度梯度,縮短了測(cè)試時(shí)間;
  (3)可測(cè)樣品范圍廣,對(duì)于樣品的尺寸要求靈活,不規(guī)整也可以測(cè)試;
  (4)Hotdisk測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)精確度高,可以達(dá)到±3%;
  (5)測(cè)試過(guò)程不受接觸熱阻的影響;
  (6)測(cè)試過(guò)程中不受探頭、樣品表面、探頭與樣品間的氣穴的干擾;
  (7)測(cè)試樣品種類多,不僅固體、薄膜可以測(cè)試,液體和粉末也可以測(cè)試;
  (8)測(cè)試溫度高;
  (9)操作簡(jiǎn)單,界面友好,功能強(qiáng)大,運(yùn)行可靠。
  缺點(diǎn):
  測(cè)試低導(dǎo)熱材料重復(fù)性差,在測(cè)試環(huán)境波動(dòng)較小的情況下可以改善。
  該設(shè)備可測(cè)的固體可以是致密的,多孔的或粉末狀,各向同性或各向異性的,高導(dǎo)的或絕熱的,透明的或不透明的??蓽y(cè)的液體可以是濃厚的粘稠的,也可以是低粘度的溶劑,或者任意中間狀態(tài)的液體。
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